Hồng ngoại sóng ngắn (SWIR) cấu thành một ống kính quang học được thiết kế đặc biệt để thu ánh sáng hồng ngoại sóng ngắn mà mắt người không thể nhìn thấy trực tiếp. Dải này thường được chỉ định là ánh sáng có bước sóng kéo dài từ 0,9 đến 1,7 micron. Nguyên lý hoạt động của thấu kính hồng ngoại sóng ngắn phụ thuộc vào đặc tính truyền của vật liệu đối với một bước sóng ánh sáng cụ thể và với sự hỗ trợ của vật liệu quang học và công nghệ phủ chuyên dụng, thấu kính có thể dẫn ánh sáng hồng ngoại sóng ngắn một cách thành thạo đồng thời triệt tiêu ánh sáng nhìn thấy được. ánh sáng và các bước sóng không mong muốn khác.
Các đặc điểm chính của nó bao gồm:
1. Độ truyền qua và độ chọn lọc quang phổ cao:Thấu kính SWIR sử dụng vật liệu quang học chuyên dụng và công nghệ phủ để đạt được độ truyền qua cao trong dải hồng ngoại sóng ngắn (0,9 đến 1,7 micron) và có tính chọn lọc quang phổ, tạo điều kiện thuận lợi cho việc xác định và dẫn các bước sóng cụ thể của ánh sáng hồng ngoại và ức chế các bước sóng ánh sáng khác .
2. Chống ăn mòn hóa học và ổn định nhiệt:Vật liệu và lớp phủ của thấu kính thể hiện tính ổn định nhiệt và hóa học vượt trội, đồng thời có thể duy trì hiệu suất quang học trong điều kiện nhiệt độ khắc nghiệt và các điều kiện môi trường đa dạng.
3. Độ phân giải cao và độ méo thấp:Ống kính SWIR có các thuộc tính quang học có độ phân giải cao, độ méo thấp và phản ứng nhanh, đáp ứng các yêu cầu về hình ảnh độ phân giải cao.
Ống kính hồng ngoại sóng ngắn được sử dụng rộng rãi trong lĩnh vực kiểm tra công nghiệp. Ví dụ, trong quy trình sản xuất chất bán dẫn, thấu kính SWIR có thể phát hiện các lỗ hổng bên trong tấm silicon rất khó phát hiện dưới ánh sáng khả kiến. Công nghệ hình ảnh hồng ngoại sóng ngắn có thể nâng cao độ chính xác và hiệu quả của việc kiểm tra tấm bán dẫn, từ đó giảm chi phí sản xuất và nâng cao chất lượng sản phẩm.
Thấu kính hồng ngoại sóng ngắn đóng vai trò quan trọng trong việc kiểm tra tấm bán dẫn. Vì ánh sáng hồng ngoại sóng ngắn có thể thấm qua silicon nên thuộc tính này cho phép thấu kính hồng ngoại sóng ngắn phát hiện các khuyết tật bên trong tấm silicon. Ví dụ, tấm bán dẫn có thể có các vết nứt do ứng suất dư trong quá trình sản xuất và những vết nứt này, nếu không được phát hiện, sẽ ảnh hưởng trực tiếp đến năng suất và chi phí sản xuất của chip IC hoàn thiện cuối cùng. Bằng cách tận dụng thấu kính hồng ngoại sóng ngắn, những khiếm khuyết đó có thể được phát hiện một cách hiệu quả, từ đó nâng cao hiệu quả sản xuất và chất lượng sản phẩm.
Trong các ứng dụng thực tế, thấu kính hồng ngoại sóng ngắn có thể cung cấp hình ảnh có độ tương phản cao, thậm chí có thể nhìn thấy rõ những khuyết điểm nhỏ. Việc áp dụng công nghệ phát hiện này không chỉ nâng cao độ chính xác của việc phát hiện mà còn giảm chi phí và thời gian phát hiện thủ công. Theo báo cáo nghiên cứu thị trường, nhu cầu về ống kính hồng ngoại sóng ngắn trên thị trường phát hiện chất bán dẫn đang tăng dần qua từng năm và dự kiến sẽ duy trì quỹ đạo tăng trưởng ổn định trong vài năm tới.
Thời gian đăng: 18-11-2024